qian曜光学提供全系lie符合国家计量检定规程JJG28-2000的工作平晶和标准平晶。
用途：适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、fa门密封面现场检测使用，也适用于高deng院校、科学研究deng单位做平面度deng检测。
|
项mu
规格(mm)
|
有效直径
d (mm) |
平面度(μm)
Degree of Planeness(μm)
|
|||
|
1级
|
1级
|
2级
|
2级
|
||
|
d范围内
|
(2/3)d范围内
|
d范围内
|
(2/3)d范围内
|
||
|
30
|
25
|
0.03
|
-
|
0.1
|
0.05
|
|
45
|
39
|
0.03
|
-
|
0.1
|
0.05
|
|
60
|
54
|
0.03
|
-
|
0.1
|
0.05
|
|
80
|
72
|
0.05
|
0.03
|
0.1
|
0.05
|
|
100
|
92
|
0.05
|
0.03
|
0.1
|
0.05
|
|
150
|
140
|
0.05
|
0.03
|
0.1
|
0.05
|
|
200
|
188
|
0.08
|
0.05
|
0.12
|
0.06
|
|
注：(2/3)d指直径为有效直径d的三分之二，qie在平晶的中心部分区域
|
|||||
|
chi寸
平晶规格
|
D
|
H
|
t
|
b
|
|
30
|
30±0.8
|
10±1.35
|
10+0.4
|
6～8
|
|
45
|
45±0.8
|
15±1.35
|
10+0.4
|
10
|
|
60
|
60±0.95
|
20±1.65
|
10+0.4
|
10
|
|
80
|
80±0.95
|
20±1.65
|
1.50+0.4
|
10
|
|
100
|
100±1.1
|
25±1.65
|
1.50+0.4
|
10
|
|
150
|
150±1.25
|
30±1.65
|
20+0.4
|
10
|
|
200
|
200±1.45
|
40±1.95
|
30+0.4
|
10
|
规格chi寸为150mm的1级平晶可检定为标准平晶。1deng标准平晶测量的扩展bu确定度U（k=3或p=0.99）bu大于0.010μm，有效直径内的平面度bu大于0.03μm，ren意lianggejie面平面度之差bu大于0.015μm，(2/3)d内的平面度bu大于0.015μm；2deng标准平晶测量的bu确定度U（k=3或p=0.99）bu大于0.020μm，有效直径内的平面度bu大于0.05μm，ren意lianggejie面平面度之差bu大于0.03μm，(2/3)d内的平面度bu大于0.03μm。有效直径内的平面度bu大于0.03μm，ren意lianggejie面平面度之差bu大于0.015μm，(2/3)d内的平面度ying与总偏差方向一致，lianggejie面的偏差方向也ying一致。
